测试服务

MEMS晶圆级测试

随着智能终端产品的广泛应用,MEMS传感器的市场需求也越来越大,为了提高良率,MEMS晶圆阶段的测试变得越来越重要,尤其是MEMS晶圆级动态参数的测试需求越来越急迫。上海微技术工研院引进STI3000动态晶圆级测试系统,通过一个驱动电压在晶圆上驱动MEMS移动,从而测量由此产生的相关各种特性。配合8英寸自动探针台,可测试4/6/8英寸MEMS晶圆。

可测MEMS类型:

  • 加速度计
  • 陀螺仪
  • 麦克风
  • 压力传感器

可测参数:

  • 漏电流、电容等静态参数
  • 谐振频率、品质因素、阻尼系数、正交误差等动态参数

测试服务-1


MEMS产品测试

SITRI提供完整的MEMS产品测试服务,包括测试方案制定、程序开发、硬件设计和批量测试等服务,可测封装尺寸范围1mm*1mm~5mm*5mm。

可测MEMS类型:

  • 加速度计
  • 陀螺仪
  • 湿度传感器
  • 压力传感器
  • 磁传感器
  • 温度传感器

可测参数:

  • 输出电压
  • 电流功耗
  • 噪声
  • 灵敏度
  • 零位输出
  • 线性度
  • 灵敏度温飘
  • 零位温飘
  • 线性度温飘

MEMS Final Testing from SITRI   MEMS Testing Services from SITRI


模拟及混合信号测试

上海微技术工研院支持模拟信号及混合信号集成电路产品各种性能参数测试。测试程序开放式可供编译,灵活多变的测试电路,高精度多工位测试,可满足产品研发及工程量产需求。

可测器件类型:

  • LED驱动
  • 电源管理IC
  • 模拟开关
  • 运算放大器
  • 锂电池保护

可测参数:

工作电压,工作电流,静态电流,参考电压,参考电流,导通电阻,阈值电压,工作频率,响应时间,开关时间,失调电压,增益。

Analog Signal Test Sample


功率器件测试

上海微技术工研院可测试集成化的功率器件的所有静态及动态参数。友好简单的测试程序操作界面,无需额外开发,测试结果及测试波形曲线实时反馈,测试规范遵循国际标准IEC-60747-9。

可测功率器件类型:

  • 单芯片MOSFET
  • 单芯片IGBT
  • 单芯片二极管
  • IGBT模块

可测量的参数:

  • 栅极开启电压,饱和压降,漏电流,续流二极管正向电压等静态参数;
  • 单脉冲反偏安全工作区,双脉冲反偏安全工作区,短路安全工作区,栅电荷,开启时间,关断时间,续流二极管恢复电荷等动态参数。

测试服务-4