SITRI Café Day之先进封测专题成功举办

SITRI Café Day之先进封测专题成功举办

2020年1月13日,由上海微技术工业研究院(以下简称“工研院”)主办的SITRI Café Day & 人才联谊会在新微大厦A座咖啡吧如期举办,本次会议很荣幸地邀请到了全球领先半导体封装与测试制造龙头企业日月光集团副总经理郭一凡博士(2020年入选IEEE Fellow),为大家作了“数字智能时代封装技术的发展与产业机遇”和“电子封装可靠性原理”两个专题报告。

工研院副总经理冯黎作了开场致辞。她回顾了2019年工研院主办的多场技术研讨会,多场会议的成功举办,向业内外展示了工研院作为一个开放性的技术展示和交流平台,始终坚持的“研发转化新模式·创新创业新载体”的功能定位积极为产业降低研发成本,提高转化效率,推动产业发展的创新理念。同时,她向大家详细介绍了工研院2020年将举办的一系列技术研讨会活动。

工研院副总经理 冯黎

日月光集团副总经理郭一凡博士就“数字智能时代封装技术的发展与产业机遇”和“电子封装可靠性原理”两个专题作了报告。郭博士首先介绍了“数字智能时代封装技术的发展和产业机遇”,从宏观上介绍了集成电路驱动下的数字经济在GDP的占比超过30%,这一切得益于芯片制程能力和封装技术的提升。针对未来在智能应用加速,摩尔定律减速状况下,继续提升计算力需要系统集成的封装技术助力,比如芯片集成、封装集成、板级集成等。同时新的封装技术对传感器, 光学器件, 功率/射频器件等超越摩尔领域芯片发展起带动作用。系统集成化打破传统产业链界限:封测技术和业务范围延伸,给产业链重叠重整带来的机遇。封装工艺发展带动智能技术发展,而利用智能技术对封装工艺制造的本身进行技术提升,如自动化、智能化等,从而进一步提升封装效率品质和减低成本。产品封装完成品质是否达标,除了CP测试,很重要一项就是可靠度。

日月光集团副总经理 郭一凡博士

郭博士进一步为我们介绍了“电子封装可靠性原理”,他先总括了可靠性的重要性和产品失效的主要原因:可靠性是决定品质的关键因素之一,封装产品可靠性取决于设计,材料和制程的管控;而产品产生可靠度问题或者失效的原因,大多是封装结构和材料失效造成的,我们可以通过材料和力学等主要手段进行失效分析。然后郭博士对可靠性原理及分析方法进行更深入讲解。

与会人员对郭一凡博士的演讲内容产生了浓厚兴趣,现场提问与交流不断

与会人员与郭一凡博士合影

本次会议特别设置参观工研院“超越摩尔”8寸线环节,让与会人员进一步了解工研院的工艺研发平台。工研院的工艺研发平台以“超越摩尔”8英寸研发中试线为基础,该线作为国内首条、世界领先的工艺研发平台已于2017年11月正式启动运行,技术能力覆盖CMOS先进工艺及MEMS特殊工艺,可进行各种MEMS产品的研发和小批量生产。

参观工研院8寸线