先进封装测试技术研讨会顺利召开

封装测试作为产业链制造环节,如何借助设计与Fab提升整体实力,从而增强封装测试的竞争,改善封装测试技术的短板,需要产、学、研各方的讨论和探索。上海微技术工业研究院、“超越摩尔”产业技术创新联盟联合上海市传感器技术学会,于2015年6月5日举办“先进封装测试技术研讨会”,关注以“超越摩尔”为主的微技术领域的融合创新,探讨国内外领先的封装技术的发展趋势,促成参会者和封装测试领导厂商的零距离接触,分享新兴的MEMS,RF等领域封装技术,为参会者带来最新的封装测试技术解决方案。

本次研讨会吸引了来自半导体产业链上下游企业(设备材料公司、产品设计公司、加工制造公司、终端应用单位)、科研院所、投资机构以及其他感兴趣的单位的代表参加,参会人数超过200人。参会者和封装测试领导厂商零距离接触,把握最新的封装测试技术发展趋势,加速传感器产业发展。

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圆桌讨论

时间 演讲主题 演讲嘉宾
9:30-10:15 主题演讲:Where is the Packaging Technology Drifting? Choon Heung Lee, CTO

Amkor 安靠

10:15-10:45 硅麦克风封装介绍 王志,产品管理总监

Goertek 歌尔声学

10:45-11:15 IoT Device Testing and its Challenges 孔德佳,业务策略发展部

Advantest 爱德万

11:15-11:45 物联网时代的封装技术发展 杨朝云博士,封装工程处长

ASE Group 日月光

11:45-13:00 自助午餐
13:00-13:30 IoT Drives Demand for 3DIC 刘宏钧,副总裁

WLCSP 苏州晶方

13:30-14:00 物联网的新封装应用 杜明徳,研发副总

Lingsen 菱生精密工业

14:00-14:15 会间茶歇
14:15-14:45 Wafer Level Integration Towards 3DIC: Status and Prospectus 黄河,资深总监

SMIC 中芯国际

14:45-15:15 先进指纹识别封装 谢建友,华天西安研究院院长

Hua Tian 天水华天

15:15-15:45 MEMS测试分析平台 张文燕,工程信息部总监

SITRI 上海微技术工研院

15:45-16:30 圆桌讨论 演讲嘉宾